基于CCD的电子散斑干涉系统中离面位移的测定

广东工业大学学报 ›› 2008, Vol. 25 ›› Issue (4): 49-51.

基于CCD的电子散斑干涉系统中离面位移的测定

广东工业大学信息工程学院；

出版日期:2008-03-01 发布日期:2008-03-01
基金资助:
广东工业大学青年基金资助项目(072022)

A Study of the Measurement of Lengthways Displacement Applying ESPI

Faculty of Information Engineering,Guangdong University of Technology,Guangzhou 510006,China

Online:2008-03-01 Published:2008-03-01

摘要/Abstract

摘要： 简要介绍电子散斑干涉系统的组成部分、散斑干涉原理以及离面位移测量的检测原理,并采用了最新处理光学信息的CCD测量技术,利用软件画出测试表面受力变形后的三维重构图,同时得出变形后物体在X方向和Y方向的离面位移.

关键词: 电子散斑干涉；离面位移； CCD测量技术；三维重构；

Abstract: A brief introduction to the composition of the ESPI(electric speckle pattern interferometry) is presented.It expounds the interferometry principle of Lengthways Displacement measurement,getting the 3-D lengthways displacement using CCD technology and image processing sofeware. 更多还原

Key words: ESPI； lengthways displacement； CCD measuring technology； 3-D reconfiguration；

张巧芬；石智伟；王昆； . 基于CCD的电子散斑干涉系统中离面位移的测定[J]. 广东工业大学学报, 2008, 25(4): 49-51.

Zhang Qiao-fen,Shi Zhi-wei,Wang Kun. A Study of the Measurement of Lengthways Displacement Applying ESPI[J]. Journal of Guangdong University of Technology, 2008, 25(4): 49-51.

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